Skip navigation
BelSU DSpace logo

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/1419
Название: Оценка структуры кристаллических образцов с помощью излучения быстрых электронов в этих образцах
Авторы: Бакланов, Д. А.
Внуков, И. Е.
Жандармов, Ю. В.
Шатохин, Р. А.
Ключевые слова: естественные науки
физика
физика твердого тела
кристаллы
рентгеновское излучение
электроны
дифрагированное излучение
Дата публикации: 2010
Библиографическое описание: Оценка структуры кристаллических образцов с помощью излучения быстрых электронов в этих образцах / Д.А. Бакланов, И.Е. Внуков, Ю.В. Жандармов и др. ; БелГУ // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2010. - №4.-С. 31-39.
Краткий осмотр (реферат): Анализ зависимости характеристик рентгеновского излучения, возникающего при прохождении через кристалл быстрых электронов, от качества внутренней структуры образца
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/1419
Располагается в коллекциях:Статьи из периодических изданий (на русском языке)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Vnukov Ochenka.pdf275.36 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.